2030XL PRO光谱仪实物图(CRAIC Technologies, Inc.制造)

2030XL PRO

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CRAIC Technologies Inc.的2030XL PRO是一款UV-VIS-NIR显微分光光度计,工作波长范围为200 nm至2500 nm,专为获取大规模样本微观特征的光谱、图像和薄膜厚度测量而设计。"XL"代表"超大",这款仪器正是为处理这种类型的样本而制造。该显微分光光度计结合了光学、电子学、光谱学和软件的最新技术进步,提供卓越的性能、无与伦比的速度和功能。2030XL PRO显微分光光度计易于使用,测量非破坏性,光谱数据无与伦比。它还提供手动或全自动操作,配备Scorpii™高级照明系统,并集成TE冷却阵列探测器(以实现低噪声和长期稳定性)。该显微分光光度计可以映射大型平面显示器像素内的颜色变化,轻松测量300 mm晶圆的薄膜厚度或测量最大艺术作品的荧光。它以台式包的形式提供,非常适合半导体薄膜厚度、MEMS设备、光伏面板、平面显示器的色彩测量和强度映射。

2030XL PRO产品详细说明

产品详情

  • 部件编号
    2030XL PRO
  • 制造商
    CRAIC Technologies, Inc.
  • 描述
    200 nm - 2500 nm,UV-VIS-NIR显微分光光度计

应用

  • 应用
    半导体薄膜厚度,MEMS设备,光伏面板,平面显示器的色彩测量,平面显示器的强度映射,质疑文件的微光谱,艺术作品的微光谱

通用参数

  • 测量技术
    拉曼光谱,透射,反射,UV光谱,VIS光谱,NIR光谱
  • 光谱仪类型
    台式
  • 波长范围
    200至2500 nm
  • 光谱带
    UV-VIS-NIR

总结

  • 产品概述
    CRAIC Technologies的2030XL PRO显微分光光度计是一款功能强大的设备,专门设计用于在200 nm到2500 nm的波长范围内进行非破坏性测量。它适合多种应用,包括半导体薄膜厚度测量、MEMS设备评估及光伏面板的测试。这款显微分光光度计不仅能提供高质量的光谱数据,还能够快速获取图像和薄膜厚度信息,极大地提高了实验室的工作效率。得益于其先进的照明系统和冷却探测器,2030XL PRO能够精确测量大型平面显示器的颜色变化,满足现代光电行业的需求。

技术文档