SID4 eSWIR_波前传感器_厂商:PHASICS-光电之家

SID4 eSWIR

厂商: PHASICS

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SID4 eSWIR是PHASICS推出的一款扩展短波红外波前传感器,工作波长范围为0.9 µm至2.35 µm。该传感器具有120 µm的相位空间分辨率和80 x 64的相位与强度采样。其光圈尺寸为9.6 mm x 7.68 mm,精度低于40 nm(RMS),相位分辨率可达6 nm(RMS),实时处理频率为10 Hz(全分辨率)。该波前传感器集成了PHASICS的专利技术,配备T2SL探测器,可以在一次测量中同时提供MTF和像差信息。通过USB 2.0接口进行控制,外形尺寸为90 mm x 115 mm x 120 mm。此波前传感器非常适合于自由空间光通信、国防与安全以及航空航天应用。

SID4 eSWIR产品详细说明

产品详情

  • 部件编号
    SID4 eSWIR
  • 厂家
    PHASICS
  • 描述
    0.9 µm - 2.35 µm, 扩展短波红外波前传感器,适用于航空航天应用

通用参数

  • 类型
    高分辨率, 短波红外
  • 技术
    四波长侧切干涉法(QWLSI),侧切干涉法
  • 光学波长
    0.9 到 2.35 µm
  • 接口
    USB 2.0
  • 光圈尺寸
    9.6 mm x 7.68 mm
  • 测量频率
    实时10 Hz
  • 相位与强度采样
    80 x 64
  • 相位分辨率
    <6 nm RMS
  • 相位空间分辨率
    120 µm

物理属性

  • 尺寸
    90 x 115 x 120 mm
  • 重量
    1.8 kg

应用

  • 应用
    自由空间光通信、国防与安全、航空航天

总结

  • 产品概述
    SID4 eSWIR波前传感器是PHASICS公司专为航空航天领域设计的一款高性能设备。它的工作波长范围为0.9 µm到2.35 µm,能够提供高达120 µm的相位空间分辨率和80 x 64的相位与强度采样。其光圈尺寸为9.6 mm x 7.68 mm,且具有优越的精度,低于40 nm(RMS)。该设备的相位分辨率可达到6 nm(RMS),并且具备10 Hz的实时处理频率,确保在动态环境中也能提供准确的测量。通过USB 2.0接口,用户可以方便地控制该传感器,满足不同应用的需求。SID4 eSWIR特别适合于自由空间光通信、国防与安全等高要求的应用场景,展现了PHASICS在光电技术领域的领先地位。

技术文档