FPA0640P15F-17-T1X短波红外传感器实物图(Chunghwa Leading Photonics Tech (CLPT)制造)

FPA0640P15F-17-T1X

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FPA0640P15F-17-T1X 是来自 Chunghwa Leading Photonics Tech (CLPT) 的一款 InGaAs 近红外图像传感器,光谱范围为 0.9 µm 到 1.7 µm。其量子效率填充因子(QEFF)在 1 µm 到 1.6 µm 时超过 70%,有效像素阵列为 636(H)x 508(V)。这款 SWIR 传感器采用平面 InGaAs PIN 传感器技术,像素可操作性高达 99%。其图像尺寸为 9.6 mm x 7.68 mm,像素间距为 15 µm。

FPA0640P15F-17-T1X产品详细说明

产品详情

  • 部件编号
    FPA0640P15F-17-T1X
  • 厂家
    Chunghwa Leading Photonics Tech (CLPT)
  • 描述
    0.9 µm 到 1.7 µm 的近红外 InGaAs 图像传感器

通用参数

  • SWIR 类型
    InGaAs SWIR 传感器
  • 传感器技术
    平面 InGaAs PIN
  • 总像素数
    640 x 512 像素
  • 传感器类型
    区域扫描传感器
  • 有效像素数
    636 x 508 像素
  • 暗电流
    <20 fA
  • 像素尺寸(高 x 宽)
    15 x 15 µm
  • 像素间距
    15 µm
  • 冷却
    单级高电流热电冷却器
  • 图像尺寸
    9.6 x 7.68 mm
  • 封装类型
    DIP
  • 封装
    28 针金属 SDIP
  • 阵列可操作性
    >99.9% (像素)
  • 探测率
    >3.5 x 1012 cm-vHz/W (平均探测率)
  • 最大像素率
    18 MHz
  • 百万像素
    0.32 MP
  • 无修正的不均匀性
    <5%
  • 输出信号摆幅
    2.25 V
  • 功耗
    200 mW
  • 量子效率 :
    >70%
  • 读出模式
    ITR/IWR, IMRO
  • 读出噪声
    <35 e- (底噪)
  • 分辨率
    640 (H) x 512 (V)
  • 饱和电荷
    0.041 到 1.380 Me- (电荷容量)
  • 光谱响应范围
    0.9 到 1.7 µm
  • 备注
    噪声当量辐照度:<1.8 x 1010 ph#/cm2-s,最小积分周期:<1 µs

应用

  • 应用
    近红外成像,隐蔽监控,半导体/太阳能电池板检测,医学科学与生物学,光纤通信,穿透雾霾/烟雾,冰/泥/湿气映射,工业热成像,天文学与科学

物理特性

  • 尺寸
    36.1 x 25.4 x 7.3 mm (长 x 宽 x 高)
  • 重量
    19.5 g (±0.5)

环境条件

  • 工作温度
    -40 到 71 摄氏度
  • 存储温度
    -40 到 80 摄氏度

总结

  • 产品概述
    FPA0640P15F-17-T1X 是一款高性能的近红外 InGaAs 图像传感器,适用于多种应用场景,如隐蔽监控、半导体检测、医学成像等。其光谱响应范围在 0.9 µm 到 1.7 µm 之间,具备超过 70% 的量子效率,确保在低光条件下的优异表现。该传感器采用先进的平面 InGaAs PIN 技术,提供高达 99% 的像素可操作性,确保图像质量。在设计上,FPA0640P15F-17-T1X 具有良好的冷却性能和紧凑的封装,适合于各种工业和科学应用。无论是在光纤通信还是天文学研究中,这款传感器都能提供可靠的数据和清晰的成像效果。

技术文档