LMS200_干涉仪_厂商:Pratt & Whitney Measurement Systems-光电之家

LMS200

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LMS200 是一款工作波长为 632.8 nm 的 He-Ne 激光干涉仪,适用于厚度测量。其测量范围可达 200 mm,具有直接读数范围。该干涉仪的不确定度为 0.05 + 0.5L 微米,重复性为 0.04 微米。配备有直径 0.25 英寸的金刚石尖头钨碳平面探头,探头具有电动和远程控制功能,以提高系统稳定性并消除操作人员的影响。该设备可以测量最大尺寸为 293 mm x 203 mm 的样品,探头接触力为 14 克。LMS200 具有两步校准功能,节省时间,仅需 30 秒即可完成校准,使用两个实验室级可追溯的量块进行校准。该干涉仪可在直接读数或比较模式下操作,并具有可编程自动循环功能,支持用户定义的恒定吞吐率。它可以在命令下存储所有测量的总和,并显示计算的均值和一个标准偏差的统计数据。该设备需要 110/120 V - 220/240 V 的交流电源电压,电流消耗为 1 A - 2 A,适合测量球体、磁带/磁盘基材、光学元件、聚酯薄膜、量块、涂层厚度标准、插头和销钉、螺纹线、薄膜厚度、量块堆、网厚、纺织品和精密部件。

LMS200产品详细说明

产品详情

  • 部件编号
    LMS200
  • 制造商
    Pratt & Whitney 测量系统
  • 描述
    632.8 nm He-Ne 激光干涉仪,用于厚度测量应用

通用参数

  • 类型
    激光干涉仪
  • 测量类型
    厚度, 长度
  • 波长
    632.8 nm
  • 测量长度
    0 到 8 英寸
  • 尺寸
    22 x 16 x 31 英寸, 56 x 41 x 79 厘米
  • 电源供应
    110 / 120 VAC 60 Hz (2 AMP), 220 / 240 VAC 50 Hz (1 AMP)
  • 重量
    196 kg

应用

  • 应用
    尺寸测量, 量块测量

总结

  • 产品概述
    LMS200 是一款高精度的 He-Ne 激光干涉仪,专为厚度测量设计,适用于各种光电和工业应用。它的工作波长为 632.8 nm,具有广泛的测量范围和高达 0.04 微米的重复性,适合精密部件的测量。该设备配备了先进的两步校准功能,能够快速且准确地进行测量,减少了操作人员的影响,确保了测量的一致性和可靠性。其电动探头设计使得操作更加便捷,适合测量球体、光学元件等多种材料。LMS200 是光电领域中理想的测量工具,能够满足高标准的工业需求。

技术文档

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