VFI-1200

VFI-1200是Arden Photonics推出的一款干涉检测系统，专为检查切割或抛光光纤的表面质量和平整度而设计。它的最大视场为1200微米，具有x1.5、x2、x3和x6数字变焦功能。该干涉仪配备64 MP CMOS阵列图像传感器，采用1/1.8英寸光学格式，12位ADC和525 nm LED光源。它可以实时测量最多8°（2D）的切割角度和4°（3D）的切割角度，测量时间少于7秒。该干涉仪在2D模式下具有检查和干涉条纹模式，并且具有自动/手动端角测量功能，可以生成3D端面高度图。它可以通过USB 3.0接口进行控制，同时该接口也用作电源。