FPA 640x512_P15-1.9-TE2_短波红外传感器_厂商:ANDANTA-光电之家

FPA 640x512_P15-1.9-TE2

厂商: ANDANTA

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FPA 640x512_P15-1.9-TE2是ANDANTA的一款InGaAs短波红外传感器,光谱范围为1.1 µm至1.9 µm。其量子效率填充因子(QEFF)在1700 nm时超过70%。该传感器具有640(H)x 512(V)像素的实际像素阵列,像素操作性达到99%,像素间距为15 µm,图像尺寸为9.6 mm x 7.68 mm。

FPA 640x512_P15-1.9-TE2产品详细说明

产品详情

  • 部件编号
    FPA 640x512_P15-1.9-TE2
  • 制造商
    ANDANTA
  • 描述
    1.1 µm - 1.9 µm, InGaAs SWIR传感器,适用于热成像应用

通用参数

  • SWIR类型
    InGaAs SWIR传感器
  • 传感器技术
    平面InGaAs PIN
  • 总像素数
    640 x 512像素
  • 传感器类型
    区域扫描传感器
  • 有效像素数
    636 x 508
  • 暗电流
    <100 fA
  • 像素尺寸(高 x 宽)
    15 x 15 µm
  • 像素间距
    15 µm
  • 冷却
    双级TE冷却
  • 图像尺寸
    9.6 x 7.68 mm
  • 封装类型
    DIP
  • 封装
    28针金属SDIP
  • 阵列可操作性
    >99%
  • 最大像素速率
    18 MHz
  • 输出信号摆幅
    2.25 V
  • 光响应非均匀性
    <10%
  • 功耗
    200 mW
  • 量子效率 :
    >70%
  • 读出噪声
    <35 e-
  • 分辨率
    640 (H) x 512 (V)
  • 饱和电荷
    0.041 to 1.380 Me- (电荷容量)
  • 光谱响应范围
    1.1 to 1.9 µm
  • 备注
    积分时间: 3.33 ms

应用

  • 应用
    短波红外成像,超光谱/多光谱成像,半导体检测/过程监控,废物回收,医学科学与生物学,冰/泥/湿气映射,高速工业热成像,透雾/烟雾,激光束轮廓,矿物识别

物理特性

  • 尺寸
    36.1 x 25.4 x 7.3 mm (长 x 宽 x 高)
  • 重量
    19.5 g

环境条件

  • 工作温度
    -40到71摄氏度
  • 存储温度
    -40到80摄氏度

总结

  • 产品概述
    FPA 640x512_P15-1.9-TE2是ANDANTA公司推出的一款高性能短波红外传感器,适用于多种热成像应用。该传感器的光谱范围为1.1 µm到1.9 µm,具有640 x 512的像素阵列,确保了高分辨率的图像捕捉。其量子效率填充因子在1700 nm时超过70%,使得传感器在低光照条件下依然保持良好的性能。此外,FPA 640x512_P15-1.9-TE2的像素操作性高达99%,这意味着在图像获取过程中极少出现故障像素,确保了图像的清晰度和准确性。传感器采用双级热电冷却技术,有效降低了暗电流,进一步提升了成像质量。该传感器广泛应用于短波红外成像、半导体检测、医学成像等领域,满足了不同工业及科研的需求。

技术文档