FPA0640P15F-17-C短波红外传感器实物图(Chunghwa Leading Photonics Tech (CLPT)制造)

FPA0640P15F-17-C

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FPA0640P15F-17-C 是 Chunghwa Leading Photonics Tech (CLPT) 生产的一款 InGaAs NIR 图像传感器,具有 0.9 µm - 1.7 µm 的光谱范围。它的量子效率填充因子(QEFF)在 1 µm - 1.6 µm 的波段上超过 70%。该 SWIR 传感器采用平面 InGaAs PIN 传感器技术,有效像素阵列为 636 (H) x 508 (V),并且像素可用性超过 99.9%。

FPA0640P15F-17-C产品详细说明

产品详情

  • 零件编号
    FPA0640P15F-17-C
  • 厂家
    Chunghwa Leading Photonics Tech (CLPT)
  • 描述
    0.9 µm - 1.7 µm, InGaAs NIR 图像传感器,适用于天文学和科学应用

通用参数

  • SWIR 类型
    InGaAs SWIR 传感器
  • 传感器技术
    平面 InGaAs PIN
  • 总像素数
    640 x 512 像素
  • 传感器类型
    区域扫描传感器
  • 有效像素数
    636 x 508 像素
  • 暗电流
    < 30 fA
  • 像素尺寸(高 x 宽)
    15 x 15 µm
  • 像素间距
    15 µm
  • 图像尺寸
    9.6 x 7.68 mm
  • 封装类型
    陶瓷,芯片,表面贴装
  • 封装
    64 针陶瓷 LCC
  • 阵列可用性
    > 99 %(像素)
  • 探测率
    3.0 x 1012 cm-vHz/W(平均探测率)
  • 百万像素
    0.32 MP
  • 未校正的不均匀性
    = 5 %
  • 输出信号摆动
    2.25 V
  • 功耗
    200 mW
  • 量子效率 :
    > 70%
  • 读出噪声
    < 35 e-(底噪)
  • 分辨率
    640 (H) x 512 (V)
  • 饱和电荷
    1.380 to 0.041 Me-(电荷容量)
  • 光谱响应范围
    0.9 to 1.7 µm

应用

  • 应用
    近红外成像,隐蔽监控,半导体/太阳能电池板检测,医学与生物学,光纤组装与测试,穿透雾霾/烟雾,冰/泥/水分映射,工业热成像,天文学和科学

物理特性

  • 尺寸
    18 x 18 x 2 mm(长 x 宽 x 高)
  • 重量
    1.7 g

环境条件

  • 工作温度
    - 40 to 71 摄氏度
  • 存储温度
    -40 to 80 摄氏度

总结

  • 产品概述
    FPA0640P15F-17-C 是一款先进的 InGaAs NIR 图像传感器,专为天文学和科学应用而设计,具备卓越的成像能力和高效的光谱响应。其工作波长范围从 0.9 µm 到 1.7 µm,能够在多种环境下提供清晰的图像。该传感器采用平面 InGaAs PIN 技术,确保了高达 99.9% 的像素可用性和出色的量子效率,适合用于近红外成像、隐蔽监控、半导体和太阳能电池板检测等多个领域。该产品的低暗电流和噪声特性,使其在极端条件下仍能保持良好的性能,是科研和工业应用的理想选择。

技术文档