IMS5400-TH45

IMS5400-TH45是Micro-Epsilon推出的一款白光干涉仪，专为工业厚度测量而设计。它可以在距离45毫米的范围内测量厚度，测量范围为0.035-1.4毫米，具有100 Hz到6 kHz的可调速率。这款干涉仪采用840 nm波长的NIR-SLED光源，能够测量光学非密集物体的厚度，如抗反射涂层玻璃。IMS5400-TH45具有距离无关的测量优势，能够稳定地提供纳米级的厚度值，目标在测量范围内移动不会影响测量精度。这款干涉仪的厚度测量范围也适用于薄层、平板玻璃及薄膜。其工作电压为24 V DC，功耗为10 W，外壳为铝制，尺寸为Φ10 x 55 mm。