IMS5400-TH70

IMS5400-TH70是Micro-Epsilon公司推出的一款高精度白光干涉仪，专为工业应用中的厚度测量而设计。其独特的测量技术能够在不受距离影响的情况下，提供稳定和准确的厚度数据。这款干涉仪适合测量范围在0.035mm至1.4mm之间的多种材料，包括薄膜和玻璃等。840nm的NIR-SLED光源使其能够有效地测量光学非密度物体的厚度，满足现代工业对高精度测量的需求。IMS5400-TH70不仅具备优良的测量性能，还具有灵活的接口选项，方便与其他设备集成，广泛应用于制造、材料科学等领域。其紧凑的设计和坚固的铝制外壳使其在各种环境条件下均能稳定工作，是行业内理想的测量工具。