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VFI-200 是 Arden Photonics 提供的一款干涉检测系统,具有最大视场200微米。该干涉仪配备6.4 MP CMOS阵列图像传感器,采用1/1.8英寸光学格式,12位ADC,并使用525 nm LED。它可以实时测量高达8°(2D)的切削角度,并在不到7秒的测量时间内测量4°(3D)。该干涉仪在2D模式下具有检查和干涉条纹模式,并具备自动/手动的端角测量功能,可以生成3D端面高度图。通过USB 3.0接口进行控制。VFI-200的台式模块尺寸为240 x 240 x 90 mm,非常适合精密切削器制造、切削器维护、激光制造、医疗设备制造、光纤研发、特种光纤制造、切削器开发和测试、设备连接、LDF切削器制造/维护、光纤端帽制造以及多光纤束制造等应用。
VFI-1200是用于表面质量和光纤平整度测量的干涉仪
525 nm 切割检查干涉仪,用于表面质量和平整度测量
光纤端面干涉仪,用于2D和3D表面形貌应用
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