VFI-200干涉仪实物图(Arden Photonics制造)

VFI-200

厂商: Arden Photonics

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VFI-200 是 Arden Photonics 提供的一款干涉检测系统,具有最大视场200微米。该干涉仪配备6.4 MP CMOS阵列图像传感器,采用1/1.8英寸光学格式,12位ADC,并使用525 nm LED。它可以实时测量高达8°(2D)的切削角度,并在不到7秒的测量时间内测量4°(3D)。该干涉仪在2D模式下具有检查和干涉条纹模式,并具备自动/手动的端角测量功能,可以生成3D端面高度图。通过USB 3.0接口进行控制。VFI-200的台式模块尺寸为240 x 240 x 90 mm,非常适合精密切削器制造、切削器维护、激光制造、医疗设备制造、光纤研发、特种光纤制造、切削器开发和测试、设备连接、LDF切削器制造/维护、光纤端帽制造以及多光纤束制造等应用。

VFI-200产品详细说明

产品详情

  • 部件编号
    VFI-200
  • 制造商
    Arden Photonics
  • 描述
    525 nm 切削检查干涉仪,用于表面质量检查和平整度测量

通用参数

  • 测量类型
    形状, 角度
  • 波长
    525 nm (LED)
  • 测量角度
    4度(3D), 8度(2D)
  • 物体形状
    2D, 3D
  • 分辨率
    3088 (H) x 2076 (V)
  • 尺寸
    240 x 240 x 90 mm
  • 百万像素
    6.4 MP
  • 重量
    3 kg

连接与接口

  • 接口
    USB 3.0

环境条件

  • 工作温度
    10到30摄氏度

应用

  • 应用
    精密切削器制造, 切削器维护, 激光制造, 医疗设备制造, 光纤研发, 特种光纤制造, 切削器开发和测试, 设备连接, LDF切削器制造/维护, 光纤端帽制造

总结

  • 产品概述
    VFI-200 是一款高精度的切削检查干涉仪,专为光纤行业设计,能够有效检测切削器的表面质量和角度。它采用先进的6.4 MP CMOS图像传感器,提供清晰的测量结果,适合用于激光制造和医疗设备制造等多个领域。该设备具有快速测量能力,能够在短时间内完成复杂的测量任务,非常适合需要高精度和高效率的工业应用。VFI-200 的设计紧凑,便于在实验室或生产环境中使用。此外,其USB 3.0接口使得数据传输更加便捷,用户可以轻松地将测量结果与其他设备进行连接。无论是在光纤研发还是在特种光纤制造方面,VFI-200 都是一个理想的选择。

技术文档