VFI-2000

VFI-2000 是 Arden Photonics 提供的一款干涉检测系统，旨在检查切割或抛光光纤的表面质量和平整度。它配备了一个640万像素的CMOS图像传感器和12位ADC，采用1/1.8英寸光学格式，提供2000微米的视场，并具有x6数字变焦功能。该干涉仪能够在2D和3D模式下分析直径为400-2000微米的光纤，使用户能够全面了解切割或抛光过程。它可以在2D模式下实时测量高达8°的切割角度，并在3D模式下在7秒内测量4°的角度。该干涉仪具有0.01微米的高度分辨率，并可以在自动或手动模式下测量端角。它还具有检查模式和条纹模式，并能够生成3D端面高度图。VFI-2000 可通过USB 3.0接口控制，该接口也用于供电。其台式模块尺寸为240 x 240 x 90 mm，特别适用于光纤研发、设备猪尾、切割器开发/测试、精密切割、激光、医疗设备、特种光纤、LDF切割器、光纤端帽和多光纤束制造等应用。